芯片測試結批管系統(RCS）簡介：

 在半導體測試領域，生產環境存在各種各樣的不確定性，可能由于人、機、料、法、環等因素造成測試機制程能力的偏移。芯片測試結批管控系統，采用開源大數據技術引擎，可以對芯片測試的CP、FT環節測試數據的進行一站式數據治理，針對設定的卡控規則進行計算，發現制程問題及時以郵件、企業微信等方式發送告警到對應責任人，降低不合格品流出的風險。用戶可通過系統定義不同的卡控規則，實現對于不同客戶、產品、測試程序的Lot或Run進行校驗與卡控，通過多維度、多層級的組合對Yield、Bin、測試項等進行管控。

功能特點：

?支持并行1000+ Lot/Run數據同時進行校驗與卡控。

 ?結合業務Know-How設計了常見的卡控規則，支持通過配置的方式進行設定，滿足不同的管控需求。

?支持郵件、微信等主流告警，支持與MES聯動過站。

核心價值：

?為生產上一道保險，避免不良品漏出。

?提升發現問題的效率，及時解決問題，降低良率或質量持續惡化的風險。