芯片測試實時管控系統(RTM)簡介：

 在半導體測試領域，生產長期處于黑匣子狀態，無法搞清楚生產過程中的情況，缺少專業、有效的手段對生產過程進行監控。芯片測試實時管控系統，采用開源大數據技術引擎和自主研發的測試機臺數據采集系統，可在生產過程中實時從機臺中采集測試數據，包括TD、Bin、測試項等關鍵數據。用戶可以通過系統定義不同的卡控規則，通過實時數據計算對不同客戶、產品、測試程序的Lot或Run進行實時的校驗與卡控，在發現制程異常時即時停止設備或報警，極大程度的降低損失。

功能特點：

?支持1000+機臺同時接入，可實現秒級數據采集、處理。

 ?自主研發的數據采集系統支持對接主流的測試機，包括93K、Chroma、T2000、T5、I-Flex、U-Flex、P2000等幾十種機型。

?支持與CIM系統對接，實現即時停機。

 ?結合業務Know-How設計了常見的卡控規則，支持通過配置的方式進行設定，滿足不同的管控需求。

核心價值：

讓芯片測試生產過程透明化，在發現制程異常時及時停止設備或報警，極大程度的降低損失。